为了保证信号的完整性，必须了解和控制信号经过的传输环境的阻抗。 阻抗不匹配或偏差都会导致信号质量在整体上降低或衰减，从而导致图像、文字、声音的不完整。

同时，随着云端和手机等行业的快速发展，传输信息量越来越大，而研究信号传输的损耗尤为重要。而PCB传输线信号损耗来源为材料的导体损耗和介质损耗，同时也受到铜箔电阻、铜箔粗糙度、辐射损耗、阻抗不匹配、串扰等因素影响。

在供应链上，覆铜板（CCL）厂家与PCB快板厂的验收指标采用介电常数和介质损耗；而PCB快板厂与终端之间的指标通常采用阻抗和插入损耗，为此我司针对于PCB工厂和上下游客户开发了具有以下特点的阻抗和损耗测试系统:

1. 频率最高达53GHz，利用泰仕捷专用治具可以测量到4-5mm的阻抗测试线。

2.支持PCB的阻抗、插入损耗、SET2DIL、Delta-L3.0和Delta-L4.0测试，并可以客制化对接MES系统。

3.基于Keysight的网络分析仪，内置ESD保护电路，可以防御3KV的ESD和±30V的EOS，保护仪器最大程度的免受静电破坏，大大降低维护成本。

4. 为了满足PCB板厂COUPON和板内阻抗的测试，开发人性化的中文阻抗测试软件，实现单端和差分阻抗同时混合测量，输出平均值、最大值和最小值等信息的EXCEL报告（并可按照客户的需求导入ERP系统，实现远端阻抗控制管理），并用脚踏开关执行量，测提高测试效率。

5. 搭配半自动或者全自动测试系统及其PCB板对应的夹具，可以大批量、高效率的测量阻抗，自动产生报告和打印有问题的阻抗板信息，效率高达0.45秒/点。

6. 泰仕捷开发的高性价比阻抗条固定间距探头和板内阻抗测试探头，大大降低后续耗材使用成本。 

7. 搭配泰仕捷开发的SET2DIL中文测试软件及GGB专用探头轻松实现SET2DIL测量。

8.  由于SET2DIL测量方式是计算模拟的算法，为此一种新的损耗测量方式应intel相关部门的要求而产生，DeltaL损耗测量方式，消除了治具和探头对损耗测量的影响，大大提供测量损耗的准确性。参考：

http://www.intel.com/content/www/us/en/processors/xeon/delta-l-methodology-for-electrical-characterization-guide.html