高频阻抗损耗测试方案
传统TDR阻抗测试方案
Intel Delta-L 4.0测试方案
50GHz高速覆铜板测试方案
BT&WIFI认证自动化测试方案
光通讯测试方案
10G Base-T测试方案
主要性能:1.预热温度+50~+200℃,预冷温度-65~0℃2.温度恢复时间:5分钟以内3.温度均匀性好,试验精度高4.通过调风板可以进行风量、风速及风向的调整,保证空气循环通畅。外加样件表面温度控制选购功能,可确保样件温度到达时间的试验要求。5.自动负载演算,合理
主要性能:1.温度:-70~+100℃,湿度:20~98%RH2.40位智能可编程控制器3.处理速度快,界面显示清晰。具有多种语言选择,试验数据U盘存储及局域网端口等功能。4.标准试验条件程序下载5.可在“TestNavi”网站下载相关各种国际和行业标准试验条件,复制到控制器后即
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